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晶体的原理与检测

晶体谐振器简称晶体或晶振,它是利用石英晶体(二氧化硅的结晶体)的压电效应制成的一种谐振器件。晶体是时钟电路中最重要的器件,它的作用是产生单片机向被控电路提供的基准频率。它就像一个标尺,若其工作频率不稳定就会造成相关设备工作频率不稳定,自然容易出现问题。由于制造工艺不断提高,现在晶体的频率偏差、温度稳定性、老化率、密封性等重要技术指标都得到大幅度提高,故障率大大降低,但在选用时仍要注意选择质量好的晶体。

一、晶体的识别

1.晶体的构成

晶体是将一块石英晶体按一种特殊工艺切成薄晶片(简称为晶片,它可以是正方形、矩形或圆形等),在晶片的两面涂上银层,然后夹在(或焊在)两个金属引脚之间,再用金属、陶瓷等外壳密封,其实物外形和电路符号如下图所示。

2.晶体的特性

若在晶片的两个电极上加一电场,晶片就会产生机械变形;反之,若在晶片的两侧施加机械压力,在晶片相应的方向上就会产生电场,这种物理现象称为压电效应。如果在晶片的两极上加交变电压,晶片就会产生机械振动,同时晶片的机械振动又会产生交变电场。在一般情况下,晶片机械振动的振幅和交变电场的振幅非常小,但当外加交变电压的频率为某一特定值时,振幅明显加大,这种现象称为压电谐振。它与LC 回路的谐振现象十分相似。其谐振频率与晶片的切割方式、几何形状、尺寸等有关。

3.晶体的工作原理

晶体的等效电路如下图所示。

晶片和金属板构成的电容称为静电电容C1,它的容量大小与晶片、电极面积有关,一般为几皮法到几十皮法。当晶体振荡时,机械振动的惯性可等效为电感L1,一般L1 的值为几十毫亨到几百毫亨。而晶片的弹性可用电容C2 来表示,C2 的值很小,一般只有0.000 2~0.1pF。晶片振动时因摩擦而产生的损耗用R1 来表示,它的值约为100Ω。由于L1很大,而C2 和R1很小,所以该振荡回路的品质因数Q值很高,为1000~10000。该振荡回路有两个谐振频率,即当 L1、C2、R1 支路发生串联谐振时,它的等效阻抗最小(等于R1),串联谐振频率用f s 表示,石英晶体对于串联谐振频率f s 呈纯阻性;当频率高于f s 时,L1、C2、R1 支路呈感性,可与电容C1 发生并联谐振,其并联频率用f d 表示。

4.晶体的型号命名方法

国产晶体的型号由3个部分组成,各部分的含义如下。

二、晶体的检测

1.电阻测量法

如下图所示,将指针型万用表置于“R×10k”挡,用表笔接晶体的两个引脚,测量正常的晶体的阻值应为无穷大;若阻值过小,说明晶体漏电或短路。

2.电容测量法

由图可知,晶体在结构上类似一只小电容,所以可用电容表测量晶体的容量,通过所测得的容量值来判断它是否正常。下表是常用晶体的容量参考值。

提示:由于以上两种检测方法都是估测,不能准确判断晶体是否正常,所以最可靠的方法还是采用正常的、同规格的晶体代换检查。

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