透射电镜(TEM)实验技术服务

 透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope,简称TEM），是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。

技术原理：

技术服务流程：

       1、样本接收：经电镜固定液固定标本

       2、 实验步骤：包埋、制片、双染

       3、显微镜下观察结果、拍照分析

优势：

       透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。这是一种高分辨率(0.1nm-0.2nm)、高放大倍数(几千-几十万倍)的显微镜，是观察和研究物质超微结构的重要工具。