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芯片失效分析

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擅长芯片失效分析点针工作站(Probe Station)、反应离子刻蚀(RIE)、微漏电侦测系统(EMMI)、X-Ray检测,缺陷切割观察系统(FIB系统)OM、DECAP、SEM、EDX、IV等

IP 属地:北京

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