本文639字，阅读约需2分钟 摘 要：日本理化学研究所（理研）的研究小组开发出将X射线自由电子激光（XFEL）应用于结构分析困难的微晶体样品的技术，成功地确定了药剂候选物质和有机半导体材料等的分子结构。 关键词：X射线自由电子激光（XFEL）、理研、微结晶、药剂候选物、有机半导体、分子结构
日本理化学研究所（理研）的研究小组开发出将X射线自由电子激光（XFEL）应用于结构分析困难的微晶体样品的技术，成功地确定了药剂候选物质和有机半导体材料等的分子结构。
该研究成果有望促进更加详细地理解有机化合物的立体结构、化学性质和功能，有助于药物开发和材料开发。
XFEL和电子束三维晶体结构分析法（3D ED）的晶体结构分析比较
在有机合成化学、药学、材料科学等领域，很多化合物无法形成大晶体，因此小结晶的结构分析技术非常重要。由于电子束在样品中的散射强度比X射线高出数万倍，因此被用于微小晶体的结构分析。但是，电子衍射的缺点是在厚晶体中应用受限以及获得的数据质量差。
此次，研究小组使用XFEL设施“SACLA”，基于不易形成大晶体且晶体方向有偏差等性质，确定了解析困难的化合物的结构。在XFEL的数据处理中，通过提供从电子束得到的分子排列信息，实现了高效率的分析。利用开发的此方法，对于广泛领域内难以解析的目标对象也能得到优质的结构信息。
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